在實(shí)際生產(chǎn)中,工件的材料厚度、形狀、表面粗糙度等存在差異,這些差異會(huì)對(duì)實(shí)際測量結(jié)果造成影響。每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度,大于這個(gè)厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響,如果試件材料厚度小于儀器所要求的臨界厚度,檢測結(jié)果就會(huì)與實(shí)際厚度有差別。
涂層測厚儀則可以無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。采用了磁性測厚法、可無損傷地測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層)。
基本工作原理是:當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時(shí),測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可計(jì)算覆蓋層的厚度。具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量常用的檢測儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
涂層測厚儀基體:
1.對(duì)于本儀器標(biāo)準(zhǔn)基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)當(dāng)與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性,可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體與待測試件基體上所測得的讀數(shù)進(jìn)行比較。
2.如果待測試件的基體金屬厚度沒有超過參數(shù)表中所規(guī)定的臨界厚度,可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn):
1)在與待測試件的基體金屬厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn);
2)用一足夠厚度的,電學(xué)或磁學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊標(biāo)準(zhǔn)片或試件,但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件,不能采用襯墊法。
3.如果待測覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn),則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率,應(yīng)與試樣的曲率相同。
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